Zeta电位纳米颗粒跟踪分析仪

更新时间:2022-06-08

Zeta电位纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView所具备的单一颗粒跟踪技术,结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能,让用户眼见为实,更加直观人性化。通过子体积的扫描,来自于数以千计的颗粒的Zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此外,颗粒浓度也可以通过视频计数分析得到。因此,该仪器一台主机具备颗粒Zeta电位,浓度,粒度、电导率分析、温度等功能。
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Zeta电位纳米颗粒跟踪分析仪仪器简介:

ZetaView所具备的单一颗粒跟踪技术,结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能,让用户眼见为实,更加直观人性化。通过子体积的扫描,来自于数以千计的颗粒的Zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此外,颗粒浓度也可以通过视频计数分析得到。因此,该仪器一台主机具备颗粒Zeta电位,浓度,粒度、电导率分析、温度等功能。


Zeta电位纳米颗粒跟踪分析仪的特点 - 全自动和无源稳定性

自动校准程序会持续工作,即便是样品池被取出后。防震动设计提高了视频图像的稳定性。通过扫描多个子体积并进行平均,就可以得到可靠的统计结果。有3种测量模式可供选择:粒径,Zeta电位和浓度。样品池通道集成在一个测试模块中,盒子可提供温度控制以及同管理单元的耦合。


提供不同波长的单激光、双激光(TWIN)和四激光(QUATT)可选

自动扫描,最多可达100个子体积;

自动聚焦;

小巧,便于携带;

防震动;

光源从紫外线到红光;


理论

平移扩散常数可通过直接观测待测颗粒的布朗运动计算得到。通过测试电泳迁移率,可以得到zeta电位。


纳米粒子跟踪分析(NTA)和动态光散射(DLS)

所有的光散射仪器,包括粒子跟踪技术,都存在一个问题:当颗粒大小低于100nm时,灵敏度会迅速的降低。动态光散射技术的最低检测限是0.5nm,对于纳米颗粒跟踪分析,其最低检测限是10nm。通常,DLS和NTA的主要区别就在于浓度范围。对于DLS,当样品浓度太低时,ZETAVIEW可以非常圆满的完成检测任务。相反,对于高浓度的样品,DLS方法会非常的适合。


测量范围

测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品,颗粒跟踪技术的检测下限为10nm;相应的,如果样品的散射能力较弱,则检测下限会变得更大。假如样品稳定,不会沉淀或漂浮,Zeta电位测量的粒径上限为50微米,对于粒径测量为3微米。


源于视频分析的颗粒计数

颗粒浓度可通过视频分析得到,并归一化处理,散射体积对粒径。可检测的最小浓度为105粒子/cm3,最大为1010粒子/cm3。对于200nm的颗粒,最大体积浓度为1000ppm。


方法

ZetaView激光散射显微镜对于低于1微米衍射极限100倍的纳米粒子是非常敏感的。

产品参数
测量原理Zeta电位(微点泳),粒径(布朗运动),颗粒浓度(视频评价)
光学设计具有单个粒子跟踪功能的激光散射视频显微镜,自动准直和自动聚焦
测量池石英玻璃测量池
相机超高灵敏度的CMOS相机
相机速度3.5~60帧/秒可调
Zeta电位测量范围-500~+500mv
Zeta电位适合的粒径范围0.02-50μm
粒径测量范围0.01-2μm,测量下限和上限依赖于样品和激光选择
可选激光波长375nm,405nm,488nm,515nm,520nm,660nm
可选双激光波长405nm和488nm,405nm和520nm,405nm和640nm,488nm和640nm,520nm和660nm
样品浓度范围105-109粒子/ml(粒度),106-1010粒子/ml(Zeta电位)
温度控制RT-5℃~55℃
导电率范围3μs/cm-15ms/cm
电源90-240V,47-63Hz,50VA
激光安全仪器安全保护Class I:激光内部防护Class 3B
尺寸20x25x30cm(WxHxD)
重量主机8.5kg
软件系统控制,自动校准,跟踪单个粒子,Zeta电位分布,粒径分布,颗粒计数,散点图描述和平均计算功能,导出报告功能
理论根据Smoluchewski方程,将电泳迁移率转换为Zeta电位
根据Stokes Einstein方程,计算粒径分布
数据管理视频、文本、PDF、单一或叠加输出
符合标准ASTM E2834-12(粒径)和ISO 13099-1,2,3(Zeta电位)



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