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  • 纳米粒度及Zeta电位分析仪

    纳米粒度测量——Z新动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小,例如分子级别的大小,颗粒对光的散射效率急剧降低,使得经典动态光散射技术的自相关检测(PCS)变得更加不确定。40多年来,Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。

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  • Particle Metrix 纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView

    Zetaview所具备的单一颗粒跟踪技术,结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能,让用户眼见为实,更加直观人性化。通过子体积的扫描,来自于数以千计的颗粒的zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此外,颗粒浓度也可以通过视频计数分析得到。

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  • Particle Metrix 流动电流电位及粒度分析仪Stabino

    通过使用stabino,可实现快速便捷的颗粒的电位滴定测试。

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