X射线荧光光谱仪的设计特点及工作原理

2023-02-23

  X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析,薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm。
  
  X射线荧光光谱仪的特点:
  
  1、X射线荧光(XRF)是一种非破坏性的元素分析技术,可以测量您的工艺流,而不会造成任何损失或化学/物理变化。由此实现的实时在线分析可以快速优化许多工艺参数和产品属性。
  
  2、EpsilonXflow采用经过验证的强大Epsilon3X技术,该技术由激发和探测技术提供支持。设计精良的光路、适合轻元素和重元素的广泛激发功能,加上高灵敏度SDD探测器系统,这一切造就了Epsilon3X的强大性能。所有这些创新共同产生了高度可重复和准确的结果,并且维护需求低。
  
  3、EpsilonXflow的灵活设计使其在许多不同的工艺和工艺条件下都可轻松地实现集成。我们提供完整解决方案,能够应对不同的条件。
  
  X射线荧光光谱仪(XRF)是由激发源(X射线管)和探测系统组成的。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。每一种元素会放射出二次X射线在受到激发的样品中,然而具有特定的能量特性或波长特性是由不同的元素所放射出的二次X射线。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。之后成样品中各种元素的种类及含量被仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成。
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