华嘉在沪举办颗粒表征技术研讨会

2008-04-22

      2008年4月15日，在南昌路59号上海科学会堂思南楼901会议厅，由上海市颗粒学会和瑞士华嘉公司共同举办的“颗粒表征技术研讨会"，座无虚席，取得了圆满成功。
        
        此次研讨会首先由上海市颗粒学会理事长、上海理工大学动力工程学院的蔡小舒详尽介绍了现代颗粒分析技术进展。
        
        然后，瑞士华嘉公司产品专家魏延喜讲述了Microtrac S3500 激光粒度分析技术（Bluewave激光技术）、Nanotrac系列纳米粒度及Zetatrac型ξ电位分析技术、AnaTec动态颗粒图像分析技术、ParticleMetrix流动电流电势等。魏延喜说：“华嘉公司作为专业的外贸代理机构，愿为中国的广大用户和先进的欧美分析技术厂商之间架设交流平台，提供及时周到的服务。"其代理的产品之一，美国麦奇克（Microtrac ）有限公司先进的激光粒度分析仪在进入中国仅三年时间，就售出了近200台，并赢得了良好的市场声誉。
        

瑞士华嘉魏延喜在研讨会上发言

        下午的时间，产品王磊介绍了一些研究表界面化学的技术和相关仪器，期间他为大家展示了德国克吕士公司（Kruss）主打的K100型全自动表面张力仪等仪器，正是凭借这款仪器和DSA100接触角测量仪的性能，Kruss公司定义了测量液体和固体表面能的标准。
        
        会后，相关专家进行了各种粒度分析仪及表面分析仪的现场操作，反响热烈。