参数
| 方法名称 | 基于条纹投影相移原理 |
| XY像素大小 | 1.1 μm x 1.1 μm |
| Z方向测量范围 | 1 μm – 60 μm |
| 测样区域 | 1.41 mm x 1.06 mm (XY). (最大到： 4.2 mm x 4.2 mm) |
| 工作距离 | 18 mm |
| 样品尺寸上限 | 无限x 320 mm x 22 mm (L x W x H) |
| 成像选项 | 光学图像, 2D粗糙度图, 3 D粗糙度图 |
| 每次测量持续时间 | 5-30 s |
| 分析参数(ISO 4287, ISO 4288) | r (Wenzel 方程)；θc, 粗糙度修正接触角/Wenzel接触角；Sdr (%), Sa (μm), Sq (μm)；水平、垂直和 2D 线形区域的Ra, Rq,Rp, Rv, Rz, R10z |
| 波纹过滤 | 高斯高通滤波器（ISO 11562） |
| 样品要求/局限性 | 需要漫反射面 |
硬件
| 尺寸 | 17 cm x 16.5 cm x 11.5 cm |
| 重量 | 2.6 kg |
| 电压 | 100~240 VAC |
| 频率 | 50-60 Hz |
系统要求
| 计算机 | 2G处理器，4G内存，500G硬盘，1920x1080分辨率显示器，1个USB3.0端口 |
| 要求配置 | XYZ全自动样品台 |
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