激光粒度粒形分析仪分析模式介绍
2025-10-10
激光粒度粒形分析仪通过测量颗粒对激光的散射信号反推粒径分布，其分析模式可根据样品特性选择，主要分为通用模式、单峰模式和多峰模式，具体介绍如下：
一、通用模式
适用场景：颗粒粒度分布较宽的样品，如磨料粉体、乳液颗粒等；特征未知的样品颗粒分析也选此模式。
特点：
覆盖范围广，可同时分析多粒径段颗粒。
对复杂分布样品兼容性强，但可能牺牲部分窄分布样品的精度。
案例：分析氧化铝粉体时，通用模式能完整呈现其宽分布特性，避免因模式选择不当导致的信息缺失。
二、单峰模式
适用场景：颗粒粒度分布范围不超过10倍的样品，如0.1-1μm、1-10μm、10-100μm等窄分布颗粒。
特点：
针对窄分布样品优化，提高测试精度。
若样品实际分布较宽，可能因模型不匹配导致结果偏差。
案例：分析单分散性氧化铝颗粒时，单峰模式能准确描述小粒径范围内的分布，而通用模式可能因覆盖范围过广而降低精度。
三、多峰模式
适用场景：样品中存在两个或以上明显粒径峰的情况，如混合颗粒或团聚体。
特点：
可分离并量化不同粒径峰的贡献。
对设备分辨率和算法要求较高，需确保各峰间无重叠干扰。
案例：分析含纳米颗粒和微米颗粒的混合样品时，多峰模式能清晰区分两级分布，而单峰模式可能将混合峰误判为单峰宽分布。
四、模式选择的核心原则
样品特性优先：
窄分布样品选单峰模式，宽分布样品选通用或多峰模式。
未知样品建议先用通用模式筛查，再根据结果调整模式。
精度与效率平衡：
单峰模式精度高但适用范围窄，通用模式兼容性强但可能牺牲部分精度。
多峰模式需结合设备分辨率和算法能力选择。
实际应用验证：
通过重复测试或对比标准样品验证模式选择的合理性。
例如，激光粒度粒形分析仪分析陶瓷原料时，若通用模式结果与单峰模式差异显著，需重新评估样品分布特性。
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